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高低溫低氣壓試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)

發(fā)布時(shí)間:2022-08-31 09:01 瀏覽次數(shù):108

  高低溫低氣壓試驗(yàn)箱制冷機(jī)組給予試驗(yàn)箱室溫至-70℃的低溫冷源。制冷機(jī)組選用二元復(fù)疊制冷方式。由進(jìn)口半封閉壓縮機(jī)、熱力膨脹閥、干燥過濾器、繼電器等部件構(gòu)成。選用水冷式冷凝器,以確保運(yùn)行情況的穩(wěn)定。致冷回路包含主回路及協(xié)助回路。溫度控制板依據(jù)試驗(yàn)規(guī)定自動(dòng)選擇致冷回路,并依據(jù)必須調(diào)整輸出的冷量,使其與所需冷量盡呆能配對(duì),進(jìn)而提升控制板精度及制冷效率,減少運(yùn)行花費(fèi)。
  加熱系統(tǒng)給予高低溫低氣壓試驗(yàn)箱室溫至125℃熱原。選用不銹鋼翅片式加熱裝置。確保加溫平穩(wěn)靠譜。真空系統(tǒng)由機(jī)械泵、聯(lián)接管路、壓力調(diào)節(jié)閥、電磁真空擋板閥、打氣手閥、液位傳感器等部件構(gòu)成。給予系統(tǒng)需要的真空。
  高低溫低氣壓試驗(yàn)箱自動(dòng)控制系統(tǒng)由程序控制器、溫度控制板、溫度感應(yīng)器、壓力變送器、故障檢測(cè)元件,執(zhí)行元件等構(gòu)成。從功能上包含溫度控制系統(tǒng)、壓力控制系統(tǒng)和保護(hù)系統(tǒng)等部分。

高低溫低氣壓試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)

  高低溫低氣壓試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)
  1、控制裝置:德國(guó)西門子PLC程序控制器1套;
  2、動(dòng)態(tài)顯示:5.7"彩色人機(jī)界面,中文表明設(shè)置和及時(shí)溫度、濕度、壓力、運(yùn)作及剩余時(shí)間,程序組號(hào)及段號(hào),加溫、致冷等工作狀態(tài)和實(shí)時(shí)時(shí)鐘等;
  3、設(shè)置方法:觸摸屏鍵入,運(yùn)行方式:定值或程序方法,全數(shù)顯式PID自整定調(diào)整;
  4、溫度測(cè)量:Pt100鎧裝鉑電阻,顯示分辨率:溫度:0.1℃,濕度:0.1%RH,壓力:1Pa,時(shí)長(zhǎng):1min;
  5、程序方式:20組times;200段程序設(shè)置操縱,曲線和數(shù)據(jù)跟蹤表明紀(jì)錄;
  6、數(shù)據(jù)導(dǎo)出:配備USB接口1個(gè),可通過U盤導(dǎo)出試驗(yàn)數(shù)據(jù);
  7、輸出打印:可配置微型打印機(jī),直接打印試驗(yàn)數(shù)據(jù);內(nèi)嵌4M存儲(chǔ)空間紀(jì)錄(26萬(wàn)只)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù),裝有USB導(dǎo)出插口;
  8、通信作用:配RS232或RS485通訊接口及通訊軟件,可實(shí)現(xiàn)上臺(tái)PC機(jī)實(shí)時(shí)監(jiān)控作用(選裝);
  9、其它功能:過熱、過壓、斷相、錯(cuò)相、壓縮機(jī)油少等警報(bào)提醒,并記錄任一時(shí)刻的警報(bào),同時(shí)彈出可能的故障原因及解決方法。低氣壓試驗(yàn)箱主要用于試驗(yàn)工件在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)功效中的環(huán)境適應(yīng)性與穩(wěn)定性試驗(yàn),并或同時(shí)對(duì)試樣插電開展電氣性能參數(shù)的測(cè)量。因?yàn)榈蜌鈮簩?duì)產(chǎn)品的危害在正??諝猸h(huán)境下是很難模擬的,所以就有了低氣壓試驗(yàn)。隨著市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)的逐漸建立,公司間的競(jìng)爭(zhēng)越來(lái)越猛烈。諸多廠家只有依據(jù)低氣壓試驗(yàn)箱的規(guī)范,提升商品對(duì)環(huán)境的適應(yīng)性才能在激烈的競(jìng)爭(zhēng)中存活。
  低氣壓試驗(yàn)箱符合規(guī)定:
  《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則》
  《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)M:低氣壓試驗(yàn)方法》
  《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
  《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》
  《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法》
  《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則》
  《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法低氣壓(高度)試驗(yàn)》
  在GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則》中主要對(duì)溫度、低氣壓的應(yīng)用領(lǐng)域,綜合危害試驗(yàn)設(shè)備等進(jìn)行了論述。
  但在GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法》中對(duì)試驗(yàn)方式,嚴(yán)苛級(jí)別、試驗(yàn)?zāi)康?,?biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)展開了實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)。

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